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测定痕量钼的催化反应-共振散射光谱法[发明专利]

来源:小侦探旅游网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:测定痕量钼的催化反应-共振散射光谱法专利类型:发明专利

发明人:蒋治良,覃惠敏,凌秀超,康彩艳申请号:CN200910114141.5申请日:20090612公开号:CN101576490A公开日:20091111

摘要:本发明公开了一种测定痕量钼的催化反应-共振散射光谱法,其特征是:包括如下步骤:(1)制备钼的标准体系;(2)制备空白对照体系;(3)取适量于石英池中,置于荧光分光光度计上,同步扫描(λ=λ),测定540nm处的共振散射光强度I,空白体系的空白值为(I),计算ΔI=I-(I);(4)以ΔI对钼的浓度关系作工作曲线;(5)依照步骤(1)的方法制备检测体系,求出被测物的ΔI;(6)依据(4)的工作曲线,计算出被测物的钼的浓度。此方法具有灵敏度高、选择性好、操作简便、安全无毒、所用试剂便宜等优点。

申请人:广西师范大学

地址:541004 广西壮族自治区桂林市育才路15号

国籍:CN

代理机构:桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司

代理人:孙伊滨

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