一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置[实用新型专利]

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专利名称：一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置专利类型：实用新型专利发明人：詹耀辉,马鸿晨,戴明光申请号：CN202021804250.8申请日：20200826公开号：CN212483433U公开日：20210205

摘要：本实用新型公开了一种用于辐射制冷薄膜性能测试的装置，包括上端开口的隔热箱体，该开口端采用透明隔绝罩密封，沿着箱体的纵向方向所述隔热箱体的内部被自上而下的分隔为传导区和对流区；还包括设置在箱体内部的承载板和安装在承载板下方的高度调节机构，所述高度调节机构用于调节所述承载板在箱体中的位置高度；在所述承载板的上表面按矩形阵列分布的形式开设若干个薄膜槽，每个薄膜槽的底部安装有热电偶探头，所述的热电偶探头的信号输出端与数据记录仪相连。本测试装置能够一次性执行对多个辐射制冷薄膜样片的测试，同时通过上下移动的承载板能够实现在不同热对流系数条件下的降温测量。

申请人：苏州融睿纳米复材科技有限公司

地址：215002 江苏省苏州市高新区通安镇同心路58号

国籍：CN

代理机构：南京纵横知识产权代理有限公司

代理人：董建林

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