专利名称：一种集成电路测试系统的数字测试模块专利类型：实用新型专利发明人：李杰
申请号：CN201922309521.6申请日：20191220公开号：CN212031657U公开日：20201127
摘要：本实用新型公开了一种集成电路测试系统的数字测试模块。该测试模块包括芯片转接卡座、光耦矩阵、测试系统接口和电阻电容矩阵，光耦矩阵一方面连接测试系统接口和芯片转接卡座，另一方面连接电阻电容矩阵。该测试模块可以实现根据不同待测芯片的测试规范，自动控制光耦矩阵搭建测试回路，以实现与集成电路测试系统相互配合，自动完成对待测芯片的测试任务。并且，本测试模块配置灵活，操作方便。
申请人：北京自动测试技术研究所
地址：100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦A座9层
国籍：CN
代理机构：北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙)
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