专利名称:一种以NH作为N源的In-N共掺制备p型ZnO薄膜
的方法
专利类型:发明专利
发明人:叶志镇,简二梅,刘伟昌,赵炳辉申请号:CN200810060795.X申请日:20080422公开号:CN101267010A公开日:20080917
摘要:本发明公开了一种以NH作为N源的In-N共掺制备p型ZnO薄膜的方法,该方法利用直流反应磁控溅射技术,以In金属为施主掺杂源,以NH为N源并作为受主掺杂源制成的。以ZnIn二元合金为靶材,将清洗过的衬底放入直流反应磁控溅射装置的生长室中,生长室抽真空,溅射压强控制在1Pa,生长温度为400~600℃,在NH和O的气氛下生长;本发明方法以ZnIn二元合金为靶材,制作方法简便,耗时少,可轻易制备不同含量的靶材;掺杂浓度可以通过调节输入的反应气体的分压比、靶材中的In含量和温度来控制,掺杂浓度可控性、稳定性好;制得的ZnO薄膜表面平整,晶粒大小均匀且具有较好的择优取向,所得薄膜具有良好的光电性能。
申请人:浙江大学
地址:310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
国籍:CN
代理机构:杭州求是专利事务所有限公司
代理人:周烽
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