一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法[发明专利]

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专利名称：一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法专利类型：发明专利

发明人：史志刚,杨哲一,崔雄华,梅宝,曹晨申请号：CN202011010477.X申请日：20200923公开号：CN1120339A公开日：20201204

摘要：本发明公开了一种带涂层金属基体表面裂纹形成时间的判定方法，包括步骤：沿金属基体截面切取宽度不小于5mm的带表面涂层的金相试样，先在光学显微镜50‑100倍下低倍观察紧邻涂层的金属基体是否存在裂纹情况；如紧邻涂层的金属基体存在裂纹，则在光学显微镜500倍‑1000倍下高倍观察裂纹内部是否存在组织和形貌与涂层相同的物质；在扫描电镜下采用微区能谱分析方法，确定裂纹内物质的主要元素与涂层是否相同，其含量是否与涂层接近；如果上述几个特征均存在，就说明金属基体表面裂纹的形成时间在涂层之前，否则在涂层之后。

申请人：西安热工研究院有限公司

地址：710048 陕西省西安市碑林区兴庆路136号

国籍：CN

代理机构：西安通大专利代理有限责任公司

代理人：闵岳峰

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