专利名称：DDR模块的调试方法及系统专利类型：发明专利发明人：韩小江
申请号：CN201810911800.7申请日：20180810公开号：CN109101384A公开日：20181228
摘要：本发明公开了DDR模块的调试方法及系统，属于器件调试技术领域。DDR模块的调试方法通过对DDR模块中的待调试基准电压进行调制，监测DDR模块的通信状态，以获取待调试基准电压的最佳的设置值，实现当基准电压采用设置值时可使DDR模块高速通信保持信号的稳定性，避免因基准电压不适合而引起的异常问题。
申请人：晶晨半导体(深圳)有限公司
地址：518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室
国籍：CN
代理机构：上海申新律师事务所
代理人：俞涤炯
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