一种全视场X射线荧光成像系统及成像方法[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种全视场X射线荧光成像系统及成像方法专利类型：发明专利发明人：阳庆国

申请号：CN201610369713.4申请日：20160530公开号：CN106093095A公开日：20161109

摘要：本发明提供了一种全视场X射线荧光成像系统及成像方法，该方案包括X射线光源、滤片组、样品台、球面晶体、限光滤波装置、二维空间分辨的探测器和计算机；样平台上放置样品；X射线光源发出的X射线照射在样品上，样品发出的X射线荧光依次经过限光滤波装置和球面晶体滤波选单后聚焦成像在探测器上；计算机能够控制X射线光源和接收探测器的回传信息。本方案可以实现非扫描的全视场X射线荧光成像，获得待测样品中某一元素的含量及二维分布图像。这种全视场的X射线荧光成像技术具有较大的视场、较高空间分辨率、极高的光谱分辨率、较大的景深、图像采集速度快、可逐一单独分析样品中的多种元素，其他元素荧光或散射噪声干扰低等优点。

申请人：中国工程物理研究院流体物理研究所

地址：621000 四川省绵阳市游仙区绵山路号

国籍：CN

代理机构：成都九鼎天元知识产权代理有限公司

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