专利名称：基于SIFT特征点的SAR图像变化检测方法专利类型：发明专利
发明人：杜兰,王燕,王斐,王兆成申请号：CN201410818305.3申请日：20141225公开号：CN104517124A公开日：20150415
摘要：本发明公开了一种基于SIFT特征点的SAR图像变化检测方法，主要解决现有检测方法受“斑点”噪声影响较大的问题。其实现过程是：(1)将已配准且进行辐射校正和几何校正的两幅待检测SAR图像进行归一化处理；(2)利用归一化后的待检测的两幅图获得差异图；(3)利用尺度不变特征变换方法提取差异图中的SIFT特征点；(4)将SIFT特征点作为种子点进行区域生长，得到变化图。本发明具有对“斑点”噪声鲁棒性强的优点，可用于低性噪比下的SAR图像变化检测。
申请人：西安电子科技大学
地址：710071 陕西省西安市太白南路2号
国籍：CN
代理机构：陕西电子工业专利中心
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